@misc{oai:ismrepo.ism.ac.jp:00033914,
 author = {長島, 健悟 and Nagashima, Kengo},
 month = {Jun},
 note = {Open House, ISM in National Center of Sciences Building, 2019.6.05, 統計数理研究所オープンハウス（学術総合センター）、R1.6.5, ポスター発表},
 title = {Kaplan–Meier推定量に基づく一標本検定のサンプルサイズ設計},
 year = {2019}
}